Detaylarda derine iner
Matematiksel analizimiz yeni ürünlerin geliştirilmesinde önemli bir unsurdur. Bu, kaplama parametrelerinin izlenmesini destekler ve böylece ince kimyasal dengeleri ayarlamaya, korumaya ve denetlemeye yardımcı olur. Bu aynı zamanda, WHW üretimimizde kimyasal parametrelerin izlenmesi için de geçerlidir. Analizlerimiz, ölçüm yöntemlerini daha da geliştirmek ve optimize etmek için personel ve makine için düzenlenmiştir. CIT’de tüm üretim süreci için yeni analitik konseptler üzerinde çalışıyoruz.
Diğer faaliyet alanları, yeni analiz tekniklerinin yanı sıra, yeni analiz yöntemlerinin geliştirilmesi ve onaylanmasıdır. Çevrimiçi süreç analitiğinin devreye sokulması ve gözetimi, güçlü büyüyen diğer bir faaliyet alanıdır.
Uygulanan analiz tekniklerinde potansiyometrik titrasyon, atomik absorpsiyon spektroskopisi (AAS), UV-VIS spektroskopisi ve kromatografi (HPLC, IC) en yüksek önceliğe sahiptir. Ayrıca fiziksel parametreler belirlenir ve uygulama testleri yapılır. Baskı devre kimyasallarındaki katkı maddelerini analiz etmek için Siklik Voltametri (CVS) kullanılır.
Analiz parametreleri
- Titrasyon: Asit ve bazların tayini (hidroklorik asit, sülfürik asit, kostik soda)
- AAS: Katyonların tayini (çinko, nikel, krom, demir, kobalt)
- HPLC: Organik katkı maddelerinin tayini (parlatıcı, ıslatıcı maddeler, kompleks yapıcılar, inhibitörler)
- IC: Anyonların tayini (klorür, florür, nitrat, fosfat, sülfat)
- Fiziksel parametreler: pH değeri iletkenlik, yoğunluk, kırılganlık endeksi, katı maddeler, viskozite
- Uygulama testleri: Termal yaşlandırma, termal şok, Cr-VI içermediğine dair yıkayarak çıkarma testi
